Filmetrics膜厚測量儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產中常用來連續(xù)或抽樣測量產品薄膜的厚度，這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
Filmetrics膜厚測量儀原理分類
測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分：
點接觸式測厚儀
面接觸時測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據其測試原理不同，又可分為以下幾種：
激光測厚儀
超聲波測厚儀
涂層測厚儀
X射線測厚儀
白光干涉測厚儀
電解式測厚儀
管厚規(guī)
Filmetrics膜厚測量儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
涂層測厚儀：
涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
涂層測厚儀具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）
Filmetrics膜厚測量根據測量原理一般有以下五種類型：
1.磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法：適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法：適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴，測量精度也不高。
4.電解測厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法：此處儀器價格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用于一些特殊場合。
Filmetrics膜厚測量儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
Filmetrics膜厚測量儀注意事項：
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。
Filmetrics膜厚測量儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。 |
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